русский 
English
اللغة العربيةNingbo Oriental Mecha & Elec
UST300 Сканирующая акустическая микроскопия (САМ)
Ультразвуковой микроскоп — это неразрушающее устройство, которое показывает волновые формы и высококачественные изображения внутренней структуры объекта, обнаруживая мелкие дефекты, которые теряются при разрушающем анализе.
Запросить коммерческое предложение
Информация о продукте
Сканирующая акустическая микроскопия (SAM) — это неразрушающий измерительный прибор, разработанный для инспекции внутренних дефектов, определения их местоположения, размера и распределения в полупроводниковых корпусах или материалах с использованием высокочастотных ультразвуковых волн. Он обладает высокой чувствительностью к слоям связей, благодаря чему может обнаруживать такие дефекты, как воздушные полости, дефекты, примеси и расслоения. Сканирующая акустическая микроскопия представляет собой неразрушающее устройство, которое позволяет отображать волновые формы и изображения высокого разрешения внутренней структуры исследуемых объектов, выявляя даже мелкие дефекты, которые были бы утеряны при разрушающем контроле. После обследования объекты могут быть использованы без ограничений.
Модель UST300 Сканирующая акустическая микроскопия находит основное применение в областях анализа отказов, анализа надежности, контроля процессов, контроля качества, разработки продукции, улучшения технологических процессов и т.д.
Ключевые особенности
Программное обеспечение Smartscan для SAM: ПО Smartscan — это мощное программное обеспечение для САМ. Интерфейс доступен на китайском и английском языках, с пожизненным бесплатным обновлением программного обеспечения.
Система сканирования: Ось сканирования реализована на линейном двигателе с замкнутым контуром, что обеспечивает высокую скорость, высокую точность и низкий уровень шума.
Ультразвуковая система: Используется раздельная система передачи и приема ультразвуковых сигналов, оснащенная устройством предварительного усиления сигнала, а также низко- и высокочастотными фильтрами для обеспечения превосходного качества сигнала.
Преобразователи (Трансдьюсеры): Широкий ассортимент преобразователей с диапазоном частот от 5 МГц до 300 МГц.
Режимы инспекции (Области обследования): Включает такие режимы, как A, B, C, Body, Трансмиссия (Transmission), Многослойный, Офлайн-сканирование, Сканирование поддона JEDEC и другие.
Аналитические функции: Статистика размера и площади дефектов, автоматический расчет процентного содержания дефектов в области измерения.
Динамический анализ изображения: Возможность в режиме реального времени переключаться между отображением пика изображения C-скана, положительного и отрицательного пиков, изображения обратного фазового сдвига и псевдоцветного изображения, что позволяет легко анализировать дефекты устройства с разных ракурсов.
Многоокновое отображение: Возможность одновременного отображения результатов нескольких видов обнаружения с возможностью их повторного анализа.
Элементы тестирования
Режимы сканирования: А-сканирование, B-сканирование, C-сканирование, контурное профильное D-сканирование, многослойное сканирование, послойное сканирование, объемное сканирование, сканирование по потере обратного эха, скачкообразное сканирование, сканирование по поддонам, сканирование по пазам (опционально) и др.
В процессе сканирования форма волны А отображается в реальном времени, что позволяет оперативно регулировать временные ворота данных.
Параметры траектории сканирования задаются через программное обеспечение; начальная позиция B- и C-сканирования устанавливается произвольно в пределах рабочей области сканирования.
Система оснащена функциями самодиагностики при включении, диагностики неисправностей и звуко-световой индикации аварий.
Режим многослойного сканирования поддерживает одновременное исследование до 100 слоёв.
Разрешение изображений сканирования достигает 10000 × 10000 пикселей.
Функция сопровождения передней поверхности позволяет корректно выполнять сканирование даже при неровной поверхности изделий.
Поддерживается переключение в реальном времени между изображениями положительных/отрицательных пиков, фазовыми изображениями и изображениями времени пролёта (TOF).
Параметры, такие как усиление сигнала, можно изменять во время сканирования с мгновенным вступлением изменений в силу.
Автоматическое сохранение настроек параметров; поддержка вызова параметров из сохранённых результатов сканирования. Это упрощает повторное сканирование, сокращает время настройки для однотипных изделий и повышает производительность работы.
Реализовано автоматическое распознавание дефектов, статистика их размеров и площади, автоматический расчёт доли дефектной области в зоне контроля, а также цветовая маркировка слоистых дефектов в реальном времени.
Поддерживается одновременный вывод нескольких изображений результатов контроля с возможностью повторного анализа и обработки.
Доступна линейная измерение по результатам сканирования, включая определение толщины образцов.
Поддерживается текстовая аннотация результатов сканирования.
Реализовано масштабирование изображений сканирования в реальном времени для детального визуального контроля.
Мощный пакет обработки изображений: масштабирование, прокрутка, измерения и аннотация, медианная и средняя фильтрация, инверсия цветов, рельефная обработка, повышение контраста и четкости, псевдоокраска и другие функции обработки.
Результаты сканирования сохраняются в форматах BMP, JPG или в виде специальных CSAM-файлов с полным набором параметров сканирования.
Расширенная функция автоматического экспорта отчётов: сохранение результатов сканирования и волн А одним кликом, что упрощает формирование протоколов контроля специалистами.
Технические данные
Полоса пропускания ультразвукового передатчика-приёмника：5–300 МГц (опция до 500 МГц)Диапазон частот ультразвукового преобразователя：5 МГц–300 МГцЧастота дискретизации АЦП-платы сбора данных：1 Гвыборка/сМаксимальное разрешение сканирующей оси：0,5 мкмМаксимальная скорость сканирования：1000 мм/сПовторяемость позиционирования：±1 мкмХод оси фокусировки Z：100 ммМаксимальная область сканирования по осям X/Y：320 мм × 320 мм (стандартная комплектация)320 мм × 160 мм (опция сквозного сканирования)
Программное обеспечение SMTest
